Vi3

X射線成像采集和分析軟件
Vi3是一個可定制的軟件平臺，支持直接應(yīng)用及定制化應(yīng)用的X射線成像和控制解決方案

VI3的特點

● 硬件控制

● 圖像增強和分析

● 存檔

● 圖像采集

● 形成報告

● 對接MES系統(tǒng)

電路板的原始圖像

高級缺陷增強(ADE)過濾器圖像

Vi3提供從運動控制、圖像采集、分析和存檔等整個工作流程中各個方面的完全可配置的控制。

為可擴(kuò)展性而設(shè)計

為可擴(kuò)展性而設(shè)計的Vi3可以輕松地與大多數(shù)工業(yè)級X射線源，探測器以及被檢測工件操縱裝置進(jìn)行交互，從而擴(kuò)展了您的硬件選擇。

Vi3的模塊化設(shè)計使您可以輕松添加選件和功能。Vi3具有三級密碼保護(hù)，因此高度安全。

Vi3通過開放的體系結(jié)構(gòu)來提供最大的靈活性，該體系結(jié)構(gòu)擁有眾多接口可對接外部，如PLC和數(shù)據(jù)庫服務(wù)器。它還與DICONDE兼容，可以在企業(yè)級別上部署多個數(shù)據(jù)收集和審查站。

如果您所在位置的流程發(fā)生了更改，可以調(diào)整Vi3來修改工作流程或處理邏輯。這大大減少了重寫代碼的必要性，甚至在某些情況下不需要重寫代碼。在圖像捕獲、操作員檢查和/或ADR分析等任務(wù)同步運行時，單個系統(tǒng)的工件吞吐量可以達(dá)到最大化。

VJT的Vi3軟件中顯示的所有帶有參考射線照相的鑄件：

所有鑄件的X射線參考照片顯示在VJT的Vi3軟件

更多零件，更優(yōu)質(zhì)，更低風(fēng)險

先進(jìn)的圖像處理程序，如高級缺陷增強（ADE）、自動缺陷識別（ADR）和其他模塊化功能，可實現(xiàn)檢驗過程的自動化，最大限度地提高吞吐量和質(zhì)量。此功能有助于提高員工的安全性，并降低產(chǎn)品用戶的風(fēng)險。

ADR自動缺陷識別

ADR自動缺陷識別(ADR)包括圖像的后處理，用于自動檢測感興趣的預(yù)編程區(qū)域的缺陷。采用ADR專有成像軟件對模擬和數(shù)字射線照相數(shù)據(jù)進(jìn)行評價，無需操作者干預(yù)。感興趣的區(qū)域(ROI)是使用獲取的數(shù)字射線照相數(shù)據(jù)預(yù)先編程的。然后，該軟件分析每個指定區(qū)域的缺陷，并提供統(tǒng)計過程控制數(shù)據(jù)，并可配置為在不合格材料或過程偏差超過編程水平時自動提醒質(zhì)量過程人員。自動缺陷識別可以通過可重復(fù)的、客觀的檢查獲取圖像（上）、ADR增強圖像（下）和改進(jìn)的過程來提高制造商的質(zhì)量，但也可以通過減少勞動力來提高生產(chǎn)率。ADR將X線檢查過程與機器視覺相結(jié)合。X射線穿透產(chǎn)品，成像系統(tǒng)生成圖像進(jìn)行評估，機器視覺自動分析圖像和決策過程。

Vi3圖像處理

從更好的數(shù)據(jù)到更好的分析再到更好的部件

數(shù)字X射線圖像可以產(chǎn)生65000多個灰度級。這對數(shù)據(jù)分析和解釋提出了獨特的挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)的膠片成像需要以不同的能量、膠片速度和曝光時間拍攝多張膠片，并在燈箱上進(jìn)行解釋，以顯示被檢查零件的所有細(xì)節(jié)。相比之下，我們的數(shù)字圖像捕捉更多的數(shù)據(jù)，全光譜圖像，以改進(jìn)操作和增強。VJT圖像處理與增強技術(shù)能更有效地解決圖像破譯的難題。VJT開發(fā)的一些獨特的模塊化過濾器包括：

先進(jìn)的缺陷增強(ADE)過濾器：

使用專有算法逐像素分析單個X射線圖像，根據(jù)周圍區(qū)域突出顯示異常和缺陷。