APOGEE 130

這是一款微聚焦X射線檢測設(shè)備，主要應(yīng)用于BGA/CSP、插入元件、SOP/QFP、三極管、CHIP元件、底部電極元件、QFN、功率模塊的檢測，檢測缺焊、未浸潤、焊錫量、偏移、異物、橋接、引腳有無等(根據(jù)檢查對象不同作不同選擇)，VJ自主研發(fā)的檢測軟件，可以對各種電子元器件進(jìn)行圖像處理，分析，自動計算缺陷。

產(chǎn)品特征
技術(shù)參數(shù)
應(yīng)用領(lǐng)域

1. 光管電壓130kv，5微米焦斑，封閉式X射線管

2. 高清數(shù)字平板探測器，成像快，圖像效果佳。

3. 配備7軸運(yùn)到控制系統(tǒng)，斜角檢測高達(dá)60° ，實(shí)現(xiàn)全方位檢測。

4. 最大檢測區(qū)域400 x 400mm

5. 可編程檢測序列，自動識別不良產(chǎn)品。

技術(shù)	X-ray光源	密閉的，微校對
	功率/電壓/電流	40W/130kV/0.300mA
	最小光斑尺寸	5μm
	檢測器	5" FPD 灰度階值: 16位 (65,536陰影) 2.36 MP )
	像素間距	85μm
	視野	73mm x 73mm (2.875”x2.875”)
	成像速度	10 FPS/Location
	X-ray 鉛房/安全	<0.1Mr/hr (1.0 Usv/hr IEC, CE, & FDA